電容電壓特性測試儀/特性測試儀 型號:GSZ-CV-2000 作為組成半導體器件的基本結構的PN結具有電容效應(勢壘電容)。加正向偏壓時,PN結勢壘區變窄,勢壘電容變大;加反向偏壓時,PN結勢壘區變寬,勢壘電容變小。 GSZ-CV-2000型電容電壓特性測試儀是測試頻率為1MHz的化數字的電容測試儀器,于測試半導體器件PN結的勢壘電容在不同偏壓下的電容量,也可測試其它電容。 面板上的發光二極管指示儀器的工作狀態,用數碼管組成的顯示板,將被測元件的數值,小數點清晰地顯示出來。儀器有較高的分辨率,電容量是四位讀數,可分辮到0.01pF,偏置電壓分辨力為0.1V,漏電流分辨力為0.01uA。 器配有GSZ-CV-2000型測量座,接插元件靈活,方便可靠。 本儀器測量,性能穩定可靠,功能齊全。操作簡便,測試速度快,精度高??蓮V泛應用于元件廠,科研,國防,高等院校等各個。 技 術 指 標 : | | 測試信號頻率 | 1.000MHz±0.01% | 測試信號電壓 | 小于或等于100mVrms | 電容測量范圍 | 1.00pF~1000pF | 工作誤差 | ±3.0%±2字 | 直流偏壓 | zui大100V | 供電電源 | 交流電壓:220V±5%; 頻率: 50Hz±5%; 消耗功率:不大于40W; | 工作環境 | 溫度:0—40℃; 濕度:20%~90%RH 40℃; |
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