微波光電導載流子復合壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號:HAD-100A HAD-100A型微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010。并且我單位是微波反射法國家標準起草單位之一。本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法,適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數載流子壽命的測量,提供無接觸、無損傷、數字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況,是半導體質量的重要檢測項目。 壽命測量范圍:0.25μs-10ms;樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。 讀數方式:數字直讀。 北京恒奧德科技有限公司 電 話:/51666869/ 傳 真: 手 機:/ :2820129828/1575574360/1321298635/1445496132 網 址:www.hengaodebj。。com www.54pc。。com/netshow/ZT11690 www.bjhadkj。。com www.hadkj88。。cn.alibaba.com 地 址:北京北洼路90號院16號樓317室(北京市地質工程勘察院院內 |