單棒振動式料位開關/料位開關 * 型號:LP-SS10 產品指標 1、特點 ·拋光的不銹鋼單探頭,不受安裝方向影響,表面自振式清潔,不受掛料影響,安裝后無需校準 ·不受介電常數影響,靈敏度可以調整 ·無可動部件,堅固的探頭耐磨損和物料沖擊 ·可以測量極輕的粉末 ·擁有防塵防爆型 2、性能指標 ·電源:180~260VAC ·功率消耗:約5VA ·振動頻率:約330HZ ·繼電器觸點:(電阻負載):1SPDT,240V 3A AC,30V 3A DC ·電氣連接:M20×1.5 ·材質:外殼:壓鑄鋁 ·振動桿:316不銹鋼 ·外殼防護:IP65 ·zui大壓力:20bar ·插入深度:20cm~20m ·松密度: zui小0.2g/cm3 ·靈敏度: 超高靈敏度用于高懸浮性粉末,高靈敏度用于細粉末(松密度0.2-0.5g/cm3),標準靈敏度用于松密度0.5以上,工廠設定,低靈敏度用于粘性材料。 ·失效保護:開關提供(高位或低位) ·檢測延遲時間:停振:1秒鐘 ·起振:5秒鐘 ·工作溫度:振動桿:-40~150℃;外殼:-20℃~85℃ 質量流量計/質量流量控制器 型號;HA-S49-33/MT S49 33M/MT型質量流量控制器(流量計)指標 糧食水份測試儀 糧食水份檢測儀 型號:HAY-VICTOR 2GC 基本特點: 1、采用微型計算機是測量更加準確 2、有溫度自動補償功能 3、帶背光照明的超大屏幕液晶顯示器,確保讀數清晰、無視差。 4、有專門的背光燈控制開關,便于節省電池。 5、帶低電能自動提示功能。 6、結構堅固、精致,整機采用經久耐用的修選電子元器件外殼選用堅硬的ABS塑料,造型美觀,攜帶方便,操作簡單。 7、可測量多種糧食:小麥、稻谷、大米、玉米 指標: 1、水分測量范圍:2%~30% zui大誤差:±(1%Rh+0.5) 分辨率:0.5% 2、溫度測量范圍:-10℃~60℃ zui大誤差:±2℃(±4℉) 1℃ 漏電保護器檢測儀/試跳筆產品型號:NSB-SDX-Ⅰ ◆無需內部電源 ◆4位開關可組合11檔測試電流 ◆過熱自恢復保護 ◆工作、保護狀態指示 參數:測試電流檔位 25mA 50mA 75 mA 110mA 135mA 160mA 185mA 220mA 245mA 270mA 295 mA 機身尺寸 149×22×22(mm) 工作溫度 -10℃~40℃ 紫外可見分光光度計/可見分光光度計 型號:HAD-756PC 儀器簡介: HAD-752、HAD-754、HAD-756PC產品適用于對紫外、可見光譜區域內物質的含量進行定量分析,可廣泛應用于工廠、學校、冶金、農業、食品、生化、環保、石油化工、醫療衛生等單位的基礎實驗室。
參數:
型號 | HAD-752 | HAD-754 | HAD-756PC | 帶寬 | 4nm | 4nm | 2nm | 波長范圍 | 200~1000nm(步進間隔0.1nm) | 190~1100nm(步進間隔0.1nm) | 190~1100nm(步進間隔0.1nm) | 波長準確度 | ±2.0nm(開機自動校準) | ±1.0nm(開機自動校準) | ±1.0nm(開機自動校準) | 波長重現性 | 1nm | 0.5nm | 0.5nm | 測定范圍 | T:-1.0~200.0%T,A:-0.5~3.000Abs,F:0~9999,C:0~9999 | 透射比準確度 | ±0.5%T | 透射比重復性 | ±0.2%T | 雜散光 | ≤0.5%T(在220nm、340nm處) | ≤0.3%T(在220nm、340nm處) | ≤0.15%T(在220nm、340nm處) | 基線直線性 | / | / | ±0.004A | 穩定性/基線漂移 | ±0.003A/h | ±0.002A/h | ±0.002A/h | 顯示器 | 128×64大屏幕液晶顯示 |
外形尺寸:455*430*220(mm)
主要特點:
功能 自動波長,鍵盤輸入,波長設定和轉換更快速。 一階過零、一階線性標準曲線測試、zui多可建立12個標樣點的標準曲線。 標定曲線擬合度,濃度直讀,可保存50條曲線參數。 濃度因子設定和濃度設定的濃度直讀功能,可保存200條測試記錄。 系統時鐘管理,暗電流校正,波長校正,USB數據接口,燈切換波長設置。 8鍵鍵盤,內置6個常用工作波長,一鍵調取(752) UV-Solution 2.0工作站軟件,具有各種測試、掃描功能(756PC) 北京恒奧德科技有限公司 電 話:/51666869/ 傳 真: 手 機: :1321298635/1445496132 網 址:www.hengaodebj。。com www.54pc。。com/netshow/ZT11690 www.bjhadkj。。com www.hadkj88。。cn.alibaba.com 地 址:北京北洼路90號院16號樓317室(北京市地質工程勘察院院內) |